석면 관찰 분석에 사용되어지는 위상차 현미경
Phase Contrast Microscope for Asbestos

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위상차 현미경 사용법

1. 위상차 검경법은 쾰러조명(Köhler 조명)의 시스템을 기반으로 설계된 관찰법이기 때문에, 관찰에 앞서서, 반드시 쾰러 조명이 정확히 구현되어 있는지 확인을 해야합니다. – 집광기(콘덴서)의 위치를 교정 –
   
   – 기본적으로는 10x 대물렌즈에서 쾰러조명을 조정하는 것으로 완료됩니다만, 노후화 된 현미경이나 광축이 틀어져 있는 경우에는 주로 사용하는 대물렌즈에서 마지막으로 한번 더 조정해 주는 것이 좋습니다. (석면검경에서는 40x 대물렌즈가 주요 대물렌즈 입니다. )

2. 대물렌즈의 위상차 링(지연판, 감쇄판)안에 과 상성이 맞는 콘덴서의 링 슬릿이 위치하도록 Centering Telescope를 관찰하면서 조정합니다. 이 조정은 설치된 위상차 대물렌즈 전부를 개별적으로 각각 시행합니다.
   ( 대물렌즈 표면에는 상성이 맞는 링슬릿의 정보가 표기 되어있습니다. )

Walton/Beckett Reticle

 Walton/Beckett Reticle을 소프트웨어에서 구현하여 모니터를 보면서 계수를 할 수 있습니다.

HSE/NPL 테스트 슬라이드

여러장의 이미지를 이어붙힌 HSE/NPL 전체이미지입니다. (6500×1000 픽셀)
클릭 하셔서 원본 이미지를 확인 하실 수 있습니다.

HSE/NPL 테스트 슬라이드는 석면 계수분석 시 위상차 현미경의 분해능 확인을 위해 영국안전보건연구소(Health and Safety Laboratory, HSL)에서 영국국립물리연구소(National Physical Laboratory, NPL) 및 PTR Optics와 공동으로 개발한 표준 슬라이드입니다.
HSE/NPL 테스트 슬라이드의 관찰부위는 7개의 밴드로 구성되어 있으며, 각 밴드는 너비 0.25～1.1 ㎛의 20개의 선으로 이루어져있다. 굴절률 1.58인 수지에 깊이 대 너비의 비가 약 1.1인 V자 모양의 홈을 새기고 그 위를 굴절률 1.485인 수지로 홈을 채운 후 0.17 ㎜의 커버슬립을 덮어 제작된다. 각각의 밴드는 20 ㎛의 간격을 두고 배열되어 있으며 분해능 확인을 위한 테스트 구간은 두 줄 또는 세 줄로 된 장방형의 구간으로 구분되어 있다. 각각의 HSE/NPL 테스트 슬라이드는 일련번호를 매겨 공인된 시험성적서와 함께 시판된다.

분해능의 기준은 ‘Band 4’로 마킹된 HSE/NPL 테스트 슬라이드를 사용할 경우 네 번째 밴드가 완전히 보이고, 다섯 번째 밴드는 부분적으로 보이며, 여섯 번째 밴드는 보이지 않는 수준일 때 현미경의 분해능이 만족스러운 것으로 판단할 수 있습니다.

하기의 이미지는 Band 4로 마킹된 HSE/NPL 테스트 슬라이드를 위상차 현미경에 AcquCAM 23S2(camera)를 장착하여 찍은 이미지 입니다. 오른쪽 밴드로 갈수록 선의 선명함이 줄어드는 것을 볼 수 있습니다. (클릭하여 확인 하실 수 있습니다.)

클릭 하셔서 원본 이미지를 확인 하실 수 있습니다

장시간 접안렌즈를 통하여 계수를 하게 되면, 관찰자의 눈에 피로해지기 쉽습니다. 이러한 문제를 해결하기 위하여 이미징 장치에서 얻은 라이브 이미지에 Walton/Beckett Reticle을 정확한 배율로 겹쳐서 모니터로 관찰 및 계수 할 수 있도록 기능을 추가하였습니다.

반사 현미경 확장용 광학 모듈

저렴한 비용 투자로 투과조명용 생물현미경을 반사조명용 금속현미경으로 Upgrade 하게 해주는 모듈(Unit).

사용할 수 있는 관찰법은 BrightField 관찰법이며, Simple Polarizing 관찰법을 옵션으로 추가할 수 있습니다.

상기 유닛은 현미경 제작에 필수적인 광학 요소로써 다양한 응용이 가능하고, 기본적인 현미경의 제작을 도모해 볼수 있습니다.

관련하여 필요하신 광학 상담은 하기의 연락처로 연락주시면 감사하겠습니다. (개발자 진재환)

E-mail : jhjin@jnoptic.com 
Mobile : + 82-2-3473-4188~9 

— 적용 사례 —

JNO-CKX53M

금속 미세조직 관찰용 광학현미경

Compact Inverted Microscope
For Department of Materials Science and Engineering

반사 및 투과 관찰용 도립현미경

Microscopy by JNO-CKX53M
( 현미경 관찰법 )

Bright Field Microscopy

경계가 명확하고, 명암이 분명한 샘플의 관찰에 사용되어지는 가장 기본적인 관찰법입니다.

분석을 위한 이미지 개선을 위해서는 샘플이 반응하는 빛의 파장대를 고려해 볼수 있습니다. 효과적인 파장대를 파악할 수 있다면 이미지분석의 정확도를 높일 수 있습니다.

Simple Polarizing Microscopy

간이 편광 관찰법은 샘플(시료)의 편광특성이 다른 재질들이 섞여 있는 시료의 구분을 위하여 사용되어지는 검경법입니다. 흔히 사용되어지는 상용 합금은 편광특성이 구별이 되지 않는 경우가 많긴 하지만, 다양한 소재의 관찰을 하는 경우에는 단순한 조작으로 큰 효과를 얻을 수 있는 관찰법입니다.

8인치 웨이퍼 검사 현미경 (Compact Type)

8인치 웨이퍼 검사 현미경 & 높이 측정 유닛 포함

JNO-WHP86FBX : 8인치 웨이퍼 검사판 ( OLYMPUS BX53M 사용가능 )

JNO-MHU : 단차 또는 높이 측정 유닛

BX53M : OLYMPUS 산업현미경

OLYMPUS(EVIDENT)의 BX53은 Y축의 구동범위는 4인치까지이기 때문에 8인치 웨이퍼를 검사 하기 어렵습니다. 8인치 웨이퍼를 관찰하기 위해서는 X축과 Y축 모두 8inch(20㎝) 구동할 수 있는 고가의 대형 현미경을 구입해야합니다.

하지만, JNO-WHP86FBX는 8인치 웨이퍼를 전면적을 검사 할 수 있도록 기능을 확장 할 수 있는 유닛입니다. (Wafer를 회전시키면서 관찰 하면, 8inch Wafer의 모든 면적을 빠짐 없이 검사 할 수 있습니다. )

JNO-MHU(Height Measuring Unit)

JNO-MHU is equipment to measure the height of sample, equipped with Z-axis stage handle. It could be equipped easily with new purchasing or existing microscope

<  Consist of  >

Responding Model	Measurement value unit	Recommended measuring height
CX 41	0.2 ㎛	Below ± 2000㎛
CKX 41	0.2 ㎛	Below ± 2000㎛
BX – FM	0.2 ㎛	Below ± 2000㎛
BX 51/53	0.1 ㎛	Below ± 1000㎛
MX 51	0.1 ㎛	Below ± 1000㎛
MX 61L/61	0.1 ㎛	Below ± 1000㎛

How to Measure Height by  JNO-MHU

Screen Capture Image ( JNO-ARM )_Discontinued function

필름 단면 관찰 현미경 (특허기술)

FILM CROSS SECTION-OBSERVATION

필름 단면 관찰 전용 현미경으로 찍은 샘플 사진 (동일 샘플)

– 필름 단면 관찰 영상 –

일반 현미경에서 필름 관찰시 문제점

• 필름 단면이 고르지 않다.
• 필름 단면 전체에 초점을 맞추기가 어렵다.
• 필름이 가늘어서 관찰면을 고정하기가 어렵다.

필름 단면 관찰 전용 현미경의 특징

• 선명한 필름 단면 샘플을 획득하기 용이함.
• 필름 단면 전체 영역이 초점 영역과 정합이 용이함.
• 샘플을 관찰하기 편하게 고정하여 관찰 가능
• 샘플의 회전이 용이하여  원하는 각도를 쉽게 맞출 수 있음.
• 샘플의 교환시 초점이 거의 변하지 않아 작업이 편함.
• 투과 반사 조명 모두에 상기의 장점을 모두 활용 가능함.

동시 관찰 검경법
– at the same time

Bright Field & Fluorescence Microscopy

명시야 검경법과 형광 검경법의 동시 관찰

본 발명은 현미경 관찰법 중에서 형광 이미징 관찰과 명시야 이미징 관찰을 동시에 수행할 수 있는 관찰 장치 및 관찰 방법을 제공합니다.

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Multi-Dual Port ( Simultaneously Observation )

Download  Catalog  JNO-DPTS

To observe Fluorescence image  and IR DIC image  at the same time
with Multi-Dual Port tube for BX51-WI
(Made by Jae Hwan JIN )

1. Simultaneously Observation

Simultaneously observation

CA3 pyramidal neuron, IR-DIC & Alexa Fluor 488 (50 uM)

Frame Rate	162 fps, increased through ROI
Sensor	1 / 1.2 inch ( 1920×1200, 5.86㎛ x 5.86㎛ )
FILTER	JNO-RemN/B (Noisy cut filter)
Manification	1x, 1.25x, 1.6x, 2x